正向電壓降低、暗光
(1)一種是電極與發光材料為歐姆接觸 , 但接觸電阻大 , 主要由材料襯底低濃度或電極缺損所致 。
(2)一種是電極與材料為非歐姆接觸 , 主要發生在芯片電極制備過程中蒸發第一層電極時的擠壓印或夾印 , 分布位置 。
另外封裝過程中也可能造成正向壓降低 , 主要原因有銀膠固化不充分 , 支架或芯片電極沾污等造成接觸電阻大或接觸電阻不穩定 。
正向壓降低的芯片在固定電壓測試時 , 通過芯片的電流小 , 從而表現暗點 , 還有一種暗光現象是芯片本身發光效率低 , 正向壓降正常 。
難壓焊
(1)打不粘:主要因為電極表面氧化或有膠
(2)有與發光材料接觸不牢和加厚焊線層不牢 , 其中以加厚層脫落為主 。
(3)打穿電極:通常與芯片材料有關 , 材料脆且強度不高的材料易打穿電極 , 一般GAALAS材料(如高紅 , 紅外芯片)較GAP材料易打穿電極 。
(4)壓焊調試應從焊接溫度 , 超聲波功率 , 超聲時間 , 壓力 , 金球大小 , 支架定位等進行調整 。
發光顏色差異
(1)同一張芯片發光顏色有明顯差異主要是因為外延片材料問題 , ALGAINP四元素材料采用量子結構很薄 , 生長是很難保證各區域組分一致 。 (組分決定禁帶寬度 , 禁帶寬度決定波長) 。
(2)GAP黃綠芯片 , 發光波長不會有很大偏差 , 但是由于人眼對這個波段顏色敏感 , 很容易查出偏黃 , 偏綠 。 由于波長是外延片材料決定的 , 區域越小 , 出現顏色偏差概念越小 , 故在M/T作業中有鄰近選取法 。
(3)GAP紅色芯片有的發光顏色是偏橙黃色 , 這是由于其發光機理為間接躍進 。 受雜質濃度影響 , 電流密度加大時 , 易產生雜質能級偏移和發光飽和 , 發光是開始變為橙黃色 。
閘流體效應
(1)是發光二極管在正常電壓下無法導通 , 當電壓加高到一定程度 , 電流產生突變 。
(2)產生閘流體現象原因是發光材料外延片生長時出現了反向夾層 , 有此現象的LED在IF=20MA時測試的正向壓降有隱藏性 , 在使用過程是出于兩極電壓不夠大 , 表現為不亮 , 可用測試信息儀器從晶體管圖示儀測試曲線 , 也可以通過小電流IF=10UA下的正向壓降來發現 , 小電流下的正向壓降明顯偏大 , 則可能是該問題所致 。
【LED芯片常遇到的6大問題】反向漏電流IR
在限定條件下反向漏電流為二極管的基本特性 , 按LED以前的常規規定 , 指反向電壓在5V時的反向漏電流 。 隨著發光二極管性能的提高 , 反向漏電流會越來越小 。 IR越小越好 , 產生原因為電子的不規則移動 。
(1)芯片本身品質問題原因 , 可能晶片本身切割異常所導致 。
(2)銀膠點的太多 , 嚴重時會導致短路 。 外延造成的反向漏電主要由PN結內部結構缺陷所致 , 芯片制作過程中側面腐蝕不夠或有銀膠絲沾附在測面 , 嚴禁用有機溶液調配銀膠 。 以防止銀膠通過毛細現象爬到結區 。
(3)靜電擊傷 。 外延材料 , 芯片制作 , 器件封裝 , 測試一般5V下反向漏電流為10UA , 也可以固定反向電流下測試反向電壓 。 不同類型的LED反向特性相差大:普綠 , 普黃芯片反向擊穿可達到一百多伏 , 而普紅芯片則在十幾二十伏之間 。
(4)焊線壓力控制不當 , 造成晶片內崩導致IR升高 。
解決方案:
(1)銀膠膠量需控制在晶片高度的1/3~1/2;
(2)人體及機臺靜電量需控制在50V以下;
(3)焊線第一點的壓力應控制在30~45g之間為佳 。
死燈現象
(1)LED的漏電流過大造成PN結失效 , 使LED燈點不亮 , 這種情況一般不會影響其他的LED燈的工作 。
(2)LED燈的內部連接引線斷開 , 造成LED無電流通過而產生死燈 , 這種情況會影響其他的LED燈的正常工作 , 原因是由于LED燈工作電壓低(紅黃橙LED工作電壓1.8v-2.2v , 藍綠白LED工作電壓2.8-3.2v) , 一般都要用串、并聯來聯接 , 來適應不同的工作電壓 , 串聯的LED燈越多影響越大 , 只要其中有一個LED燈內部連線開路 , 將造成該串聯電路的整串LED燈不亮 , 可見這種情況比第一種情況要嚴重的多 。
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