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X-RAY無損檢測X光射線 (以下簡稱X-Ray) 是利用一陰極射線管產生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過程中,因電子突然減速,其損失的動能會以X-Ray形式放出,其具有非常短的波長但高電磁輻射線 。
而對于樣品無法以外觀方式檢測的位置,利用紀錄X-Ray穿透不同密度物質后其光強度的變化,產生的對比效果可形成影像即可顯示出待測物之內部結構,進而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內部有問題的區域 。
檢測項目:
1.IC封裝中的缺陷檢驗如﹕層剝離(stripping)、爆裂(crack)、空洞(cavity)以及打線的完整性檢驗 。
2.印刷電路板制程中可能產生的缺陷,如﹕對齊不良或橋接(bridging)以及開路(open) 。
3.SMT焊點空洞(cavity)現象檢測與量測(measuration) 。
4.各式連接線路中可能產生的開路(open),短路(short)或不正常連接的缺陷檢驗 。
5.錫球數組封裝及覆芯片封裝中錫球(solder ball)的完整性檢驗 。
6.密度較高的塑料材質破裂(plastic burst)或金屬材質空洞(metal cavity)檢驗 。
【x-ray檢測設備是用來做什么的】7.芯片尺寸量測(dimensional measurement) , 打線線弧量測,組件吃錫面積(Solder area)比例量測 。
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